TARAMALI ELEKTRON MİKROSKOPU (SEM)
Cihazın Kullanım Amacı: Malzemelerin Yüzey Topografisi ve Kompozisyonlarının Analizi
Cihaz Marka/Model: Zeiss Gemini
Cihazın ait olduğu Alt Tematik Laboratuvar: Nano Görüntüleme ve Analiz Laboratuvarı
Cihazın Konumu: AGU-CRF LAB6
Cihazın Akademik Direktörleri: Prof. Dr. Evren MUTLUGÜN- evren.mutlugun@agu.edu.tr
Doç. Dr. İsmail Alper İŞOĞLU-alper.isoglu@agu.edu.tr
Cihazın Sorumlu Uzmanları: Öğr. Gör. Dr. Ümit BAYRAM-umit.bayram@agu.edu.tr
Zeiss Gemini 300 model Field Effect SEM üzerinde secondary electron (SE) ve back-scattered electron (BSE) dışında daha düşük hızlandırma voltajlarında düşük çalışma mesafesinde yüksek çözünürlük sağlayan in-lens dedektörü, geçirimli modda çalışan STEM dedektörü ve elemental analiz imkanı sunan EDS dedektörleri bulunmaktadır. Yalıtkan numunelerin görüntülenebilmesi için nanometre düzeyinde altın kaplama altyapısı mevcuttur.
SEM ile korelatif olarak çalışabilen motorize tabanlı optik mikroskop sayesinde bu mikroskopta alınan görüntülerin haritalandırılmasıyla koordinatları belirlenen bölge aynı numune tutucunun SEM’e taşınmasıyla daha detaylı incelenebilmektedir. Bright field, dark field ve CDIC modları bulunan optik mikroskop ile numuneler 5x, 10x, 20x ve 100x büyütmelerde incelenebilmektedir.